本篇文章给大家谈谈如何避免ICT测试时压件，以及对应的知识点，希望对各位有所帮助，不要忘了收藏本站喔。

本文目录一览：

• 1、芯片上面没有电路布局的部分,三防漆被刮露铜,直接把铜刮伤了,会不会...
• 2、ICT测试不稳定是什么原因
• 3、ICT测试设备用的样件,怎么做MSA稳定性?
• 4、ICT测试仪有哪些安全操作要求
• 5、ICT测试参数的调整方法

芯片上面没有电路布局的部分,三防漆被刮露铜,直接把铜刮伤了,会不会...

表面处理并不能完全确保电路板在恶劣环境下覆铜不被腐蚀。如图8所示，化学镍金电路板底部接地覆铜区域出现覆铜腐蚀现象，甚至被三防漆覆盖区域的过孔也出现了明显的腐蚀产物堵塞过孔。

没有关系，只有那些特定的脚位或者元器件受潮后影响较大，这样的纯铜箔部位，不要紧。

芯片三防漆被刮伤会降低绝缘效果。三防漆固化后会变成一层透明保护膜，具有优越的绝缘、防潮、防漏电、防震、防尘、防腐蚀、防老化、耐电晕等性能。

如果PCB的铜箔没有断一般不影响使用，你不放心可以用点松香或者蜡烛油滴在破损处保护，防止短路受潮。

就描述，简单理解，是可以这样理解。稳定性下降肯定会，只不过手工（焊接）做得好，这个下降不明显。只要不存在虚焊，稳定性跟之前一样。不懂继续问，满意请采纳。

如图所示看上去没事儿，划的只是阻焊层，没有伤至了敷铜，也没有划伤线路，不影响主板工作，这种划伤一般售后都不太在意，如果漏铜就另说了。

ICT测试不稳定是什么原因

因为ICT是在线测量，线路上和电容相连的元器件很多对测试结果有影响，电容从线路板取下用电桥或用万用表测试是正常的电容就是好的。

系统板坏了。一般是开关板。一个一个的试。如是。元件误差，那就好办。修改下，知道自己的机器误差就可以了，一般不必修。如是。很多项目不良，误差很大，有电容。电阻之分的。

我们家做服务器的，在生产中发现LED在过炉后电性测试VF偏高，上板子后看来就是工作不稳定，一会亮一会不亮。几个月前就有这个问题，厂商拿回去分析后，说是银胶有较少的剥离，是因为受潮的原因。

如果是机器正常！那就放慢速度测试！时基调多点。另一个是太热机器不稳定。

和光耦只是串联一个脚，应该没关系的。电容有并联其他的元件么？加隔离针测不出来，那就是隔离针加的不对了。多数原因是因为隔离针把电流短接了，电流不通过电容所以测试不出来。最好有截图，看看图纸就知道了。

ICT测试设备用的样件,怎么做MSA稳定性?

1、采用偏倚的方法，在量程范围内选取几点，进行回归分析即可 稳定性：对测量值建立控制图即可 重复性和再现性：这是你表达的最需要的东西。一般的MSA采用的是10个工件，三个操作员，重复测量三次。

2、可做MSA中的稳定性分析。取样件，每天测量。3-5次，测量25-35天。使用均值极差法分析。或是用MSA中的风险分析法（计数性测量系统分析），取样见50，样件经过更高仪器测量。三个人各测三次。

3、分析视需要做。 若做，线性、稳定性和偏倚应在重复性再现性分析前进行。 通常： 线性分析对象：测量多个特性的测量设备； 稳定性分析对象：电子测量设备； 偏倚分析对象：精度较高或测量公差严的测量设备。

4、所以不是单纯的零件变差，这个说来话长，你看看MSA手册。EV测量设备的变差，AV是人的操作误差。TS要求很多，如果都做测量系统分析，那需要费很多资源。

5、说说主要的，现在ICT测试趋于安捷伦的测试设备。所以我简单说下安捷伦3070的使用。首先是对安捷伦3070相关指令要熟悉，要是学过VB，VF是最好的。首先是开机上电，调用程式。所以的测试都有一个固定的命令格式。

ICT测试仪有哪些安全操作要求

1、ICT测试仪要求每一个电路节点至少有一个测试点。

2、禁止带电插拔数据电缆，连接数据电缆之前先关闭计算机和测试仪主机电源。 为防止测试仪运行中机身感应静电。试验之前先通过接地端将主机可靠接地。 36V以上电压输出时应注意安全。防止触电事故的发生。

3、测试点不可被阻焊或文字油墨覆盖，否则将会缩小测试点的接触面积，降低测试的可靠性 。测试点不能被插件或大元件所覆盖、挡住。不可使用过孔或DIP元件焊点做测试点。

4、使用继电保护测试仪时，请勿堵住或封闭机身的通风口，一般将仪器站立放置或打开支撑脚稍倾斜放置。禁止将外部的交直流电源引入到测试仪的电压、电流输出插孔。否则，测试仪将被损坏。

ICT测试参数的调整方法

1、ctrl+F7不改变隔离点自动调整 ctrl+c调换高低点 ctrl+x显示连接方式 ctrl+p探测点检测 f5全部测试 f6停止测试（机台上升）还有很多很多。。常用的就这么多了。

2、ICT测试理论做一些简单介绍 1基本测试方法 1模拟器件测试 利用运算放大器进行测试。由“A”点“虚地”的概念有： ∵Ix = Iref ∴Rx = Vs/ V0*Rref Vs、Rref分别为激励讯号源、仪器计算电阻。测量出V0，则Rx可求出。

3、首先连接上智科450控制器。 进入控制器的参数设置界面。 找到需要调整的参数，如速度、加减速时间等。 根据需要进行修改，注意修改的值应该根据实际情况调整。 调整完毕后保存设置。

4、选出效果最佳的模型所对应的参数，即用来调整模型参数。如svm中的参数c和核函数等。 测试集 ( Test set ) 通过训练集和验证集得出最优模型后，使用测试集进行模型预测。用来衡量该最优模型的性能和分类能力。

5、即完成ICT测试步骤后，转到产品通电状态，测试产品的各项正常工作时的参数。这样的好处是不要再去拿放一次产品。区别在于ICT主要检测电路板元件有没有插错元件参数是否正常，而FCT主要检测电路板功能是否正常。

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